EMI天線有哪兩類傳導性干擾因素
　　
　　EMI天線干擾可以來自某個不定向發(fā)射源以及某個無意形成的天線。傳導性EMI干擾也可以來自某個輻射EMI干擾源，或者由一些電路板組件引起。一旦您的電路板接收到傳導性干擾，它便駐入應用電路的PCB線跡。常見的一些輻射EMI干擾源包括以前文章中談及的組件，以及板上開關(guān)式電源、連接線和開關(guān)或者時鐘網(wǎng)絡。
　　
　　傳導性EMI天線干擾是開關(guān)電路正常工作與寄生電容和電感共同作用產(chǎn)生的結(jié)果。圖1顯示了一些會進入到您的PCB線跡中的EMI干擾源情況。Vemi1源自開關(guān)網(wǎng)絡，例如：時鐘信號或者數(shù)字信號線跡等。這些干擾源的耦合方式均為通過線跡之間的寄生電容。這些信號將電流尖脈沖帶入鄰近PCB線跡。同樣，Vemi2源自開關(guān)網(wǎng)絡，或者來自PCB上的某個天線。這些干擾源的耦合方式均為通過線跡之間的寄生電感。該信號將電壓擾動帶入鄰近PCB線跡。每三個EMI天線源來自于線纜內(nèi)相鄰的導線。沿這些導線傳播的信號可產(chǎn)生串擾效應。
　　
　　開關(guān)式電源產(chǎn)生信號。開關(guān)式電源產(chǎn)生的干擾駐存在電源線跡上，并以信號的形式出現(xiàn)。
　　
　　在正常運行期間，開關(guān)式電源(SMPS)電路為傳導性EMI天線的形成帶來機會。這些電源內(nèi)的“開”和“關(guān)”切換操作，會產(chǎn)生較強的非連續(xù)性電流。這些非連續(xù)性電流存在于降壓轉(zhuǎn)換器的輸入端、升壓轉(zhuǎn)換器的輸出端，以及反激和降升壓拓撲結(jié)構(gòu)的輸入和輸出端。開關(guān)動作引起的非連續(xù)性電流會產(chǎn)生電壓紋波，其通過PCB線跡傳播至系統(tǒng)的其它部分。
　　
　　EMI天線共有兩類傳導性干擾：差模干擾和共模干擾。差模干擾信號出現(xiàn)在電路輸入端之間，例如：信號和接地等。電流流經(jīng)同相的兩個輸入端。但是，1號電流輸入大小與2號相等，但方向相反（差動參考）。這兩個輸入端的負載，形成一個隨電流強弱變化的電壓。線跡1和差分基準之間的這種電壓變化，在系統(tǒng)中形成干擾或者通信誤差。
　　
　　在您向電路添加一個接地環(huán)路或者不良電流通路時，便出現(xiàn)共模干擾。如果存在某個干擾源，則線跡1和線跡2上形成共模電流和共模電壓，而接地環(huán)路充當一個共模干擾源。差模干擾和共模干擾都要求使用特殊的濾波器，來應對EMI干擾的不利影響。